◆儀器技術指標：
☆Q值測量：
a．Q值測量范圍：5～999。              b．Q值量程分檔：30、100、300、999、自動換檔。
c．標稱誤差
      頻率范圍：25kHz～10MHz；       固有誤差：≤5％±滿度值的2％；工作誤差：≤7％±滿度值的2％；
      頻率范圍：10MHz～50MHz；      固有誤差：≤7％±滿度值的2％；工作誤差：≤10％±滿度值的2％。
☆電感測量：
a．測量范圍：0.1μH～1H。
b．分    檔：分七個量程。
      0.1～1μH，    1～10μH，    10～100μH， 
      0.1～lmH，     1～10mH，     10～100mH，   100 mH～1H。
☆電容測量：
a．測量范圍：1～460pF（460pF以上的電容測量見使用規則）；
b．電容量調節范圍
      主調電容器：40～500pF；                準  確  度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％；
      微調電容量：－3pF～0～＋3pF；      準  確  度：±0.2pF。
☆振蕩頻率：
a．振蕩頻率范圍：25kHz～50MHz；
b．頻率分檔
25～74kHz，    74～213kHz，    213-700kHz，    700kHz～1.95MHz，
1.95MHz～5.2MHz，    5.2MHz～17MHz，    17～50MHz。
c．頻率誤差：2×10-4±1個字。
☆Q合格指示預置功能，預置范圍：5～999。
☆儀器正常工作條件
a. 環境溫度：0℃～+40℃；            b．相對濕度：<80％；           c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。  
☆試樣尺寸
圓片形：厚度2+0.5mm，直徑為Φ30~40mm（ε<12時），Φ25~35mm（ε=12~30時），Φ15~20mm（ε>30時）
☆其他
a．消耗功率：約25W；            b．凈重：約7kg；          c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。
☆ Q合格指示預置功能
預置范圍：5～1000。

北京北廣精儀儀器設備有限公司專業北京*產品
介電常數儀  型號：BDAT-A
一 .概述：  介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數（ε），可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數字鎖定，標準頻率測試點自動設定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉換，數值顯示等新技術，改進了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減至zui低，并保留了原Q表中自動穩幅等技術，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質損耗，高頻回路有效并聯及串聯電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。儀器遵從標準：GB/T5594.4-1985。

二、儀器的技術指標 1．Q值測量  a．Q值測量范圍：5～999。  b．Q值量程分檔：30、100、300、999、自動換檔。 c．標稱誤差        頻率范圍：25kHz～10MHz；        固有誤差：≤5％±滿度值的2％；工作誤差：≤7％±滿度值的2％；       頻率范圍：10MHz～50MHz；        固有誤差：≤7％±滿度值的2％；工作誤差：≤10％±滿度值的2％。 2．電感測量  a．測量范圍：0.1μH～1H。 b．分    檔：分七個量程。        0.1～1μH，    1～10μH，    10～100μH，        0.1～lmH，     1～10mH，     10～100mH，   100 mH～1H。 3．電容測量  a．測量范圍：1～460pF（460pF以上的電容測量見使用規則）； b．電容量調節范圍        主調電容器：40～500pF；        準  確  度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％；       微調電容量：－3pF～0～＋3pF；       準  確  度：±0.2pF。 4．振蕩頻率  a．振蕩頻率范圍：25kHz～50MHz； b．頻率分檔：  25～74kHz，    74～213kHz，    213-700kHz，    700kHz～1.95MHz，1.95MHz～5.2MHz，    5.2MHz～17MHz，    17～50MHz。  c．頻率誤差：2×10-4±1個字。  5．Q合格指示預置功能，預置范圍：5～999。 6．儀器正常工作條件  a. 環境溫度：0℃～+40℃； b．相對濕度：<80％；  c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。    7．試樣尺寸  圓片形：厚度2+0.5mm，直徑為Φ30~40mm（ε<12時），Φ25~35mm（ε=12~30時），Φ15~20mm（ε>30時） 8．其他  a．消耗功率：約25W； b．凈重：約7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

三、實驗步驟：  1．本儀器適用于110V/220V , 50Hz+0.5Hz交流電，使用前要檢查市電電壓 是否合適，采用穩壓電源，以保證測試條件的穩定。 2．開機預熱15分鐘，使儀器恢復正常狀態后才能開始測試。  3．按部件標準制備好的陶瓷試樣，兩面用燒滲法被上銀層，并分別焊上一根 Φ0.8mm，30~40mm長的金屬引線。引線材料為銅，表面鍍銀并浸錫。 4．選擇適當的輔助線圈插入電感接線柱。根據需要選擇振蕩器頻率，調節測 試電路電容器使電路諧振。假定諧振時電容為C1，品質因素為Q1。 5． 將被測樣品接在“CX”接線柱上。  6．再調節測試電路電容器使電路諧振，這時電容為C2，可以直接讀出Q2，并 且Q2= Q1－△Q，。  7．用游標卡尺量出試樣的直徑Φ和厚度d（分別在不同位置測得兩個數據， 再取其平均值）。  8.方形式樣按其邊長的4倍計算Φ值 

四、注意事項  1．圓片形試樣的尺寸（Φ=38mm+1mm，d=2mm+0.5mm）要符合公差要求，兩面 燒滲銀層、浸錫及焊接引出線要符合技術條件。  2．電壓或頻率的劇烈波動常使電橋不能達到良好的平衡，所以測定時，電壓 和頻率要求穩定，電壓變動不得大于1%，頻率變動不得大于0.5%。 3．電極與試樣的接觸情況，對tanδ的測試結果有很大影響，因此燒滲銀層 電極要求接觸良好、均勻，而厚度合適。  4．試樣吸濕后，測得的tanδ值增大，影響測量精度，應嚴格避免試樣吸潮。 5．在測量過程中，注意隨時檢查電橋本體屏蔽的情況，當電橋真正達到平衡， “本體-屏蔽”開關置于任何一邊時，檢查計光帶均應zui小，而無大變化。

附錄一、測試原理簡介  一、儀器的工作原理 1．“Q”的定義       Q表是根據串聯諧振原理設計，以諧振電壓的比值來定位Q值。“Q”表示元件或系統的“品質因數”，其物理含義是在一個振蕩周期內貯存的能量與損耗的能量之比。對于電抗元件（電感或電容）來說，即在測試頻率上呈現的電抗與電阻之比。它以89C51單片計算機作為控制核心，實現對各種功能的控制。壓控信號源為Q值測量提供了一個優質的高頻信號，頻率從25kHz-50MHz，共分為七個波段。信號源的頻率受頻率調諧和數字鎖定單元的控制。信號源輸出一路送到程控衰減器和自動穩幅控制單元，該單元根據CPU的指令對信號衰減后送回信號激勵單元，同時對信號檢波后送出一直流控制信號到壓控信號源實現自動穩幅。信號源的另一路輸出送到頻率計數電路，在這里完成對信號的整形，預計數，然后再送到CPU實現計數。信號激勵部分輸出送到一個寬帶分壓器，由分壓器饋給測試調諧回路一個恒定幅度的信號。當測試回路處于諧振狀態時，在調諧電容CT兩端的信號幅度將是分壓器提供的信號幅度Q倍。在CT兩端取得的調諧信號被信號放大單元適當放大后送到檢波和數字取樣單元，檢波后經數碼取樣轉換，送到控制中心CPU去進行數據處理，同時再送給面板Q調諧指示表。由控制中心CPU處理過的頻率值，Q值等其它需顯示數據送到顯示控制CPU，由顯示控制CPU完成面板顯示的控制。   

二、結構特性      采用了較低的臺式機箱，面板采用PC絲印面板，美觀大方。各主要功能單元，除了顯示部分為了顯示方便和調諧測試回路、放大單元為了減小分布參數，安裝在面板上外，其余都安裝在機內底板上。見圖三面板示意圖。面板左半部是頻率和Q值顯示，操作按鍵和頻率調諧鈕所在部位。面板右半部是調諧回路的主，付調電容所在部位。儀器的頻段控制，標頻設定，諧振點搜索，Q值合格點設置都以輕觸按鍵實現控制，頻率調諧由數碼開關完成，面板上無一可調電位器，極大地簡化了操作，又提高了可靠性。 面板各功能鍵說明：  1．頻率顯示數碼管，共5位。 2．頻率單位指示燈，MHz或kHz。  3．器件Q值合格指示燈，超過已設置的值時燈亮。 4．Q值指示數碼管，共3位。  5．工作頻段選擇按鍵，每按一次，切換至低一個頻段工作。 6．工作頻段指示燈，表格內為對應的頻段工作頻率范圍。7．工作頻段選擇按鍵，每按一次，切換至高一個頻段工作。  8．工作頻段內，標準測試頻率設置按鍵，各段內標準測試頻率見面板功能部分。  9．器件諧振點搜索按鍵，右上角指示燈亮時表示儀器正工作在自動搜索。如 需退出搜索，再按此鍵。 10．頻率調諧數碼開關。  11．Q值合格比較值設定按鍵。 12．Q值調諧指示表。  13．對應各工作頻段的電感測量范圍和標準測試頻率表。  14．調諧回路的付調諧電容器調諧旋鈕，它與主調諧電容并聯，旋鈕上方對 應的窗口內是該電容的變化范圍指示刻度盤（－3～+3P）。  15．調諧回路的主調電容調諧旋鈕，上方對應的窗口內為主調電容的電容值 和諧振時對應的測試電感值刻度盤。 16．電源開關  17．測試回路接線柱，左邊兩個為電感接入端，右邊兩個為外接電容接入端。

免費修理。  附表一  LKI-2電感組  電感No 電感量 準確度% Q值≥ 分布電容約略值 10 250mH ±5 50 15pF 9 25mH ±5 70 10pF 8 5mH ±5 100 10pF 7 1mH ±5 100 14pF 6 250μH ±5 150 9pF 5 50μH ±5 150 12pF 4 10μH ±5 150 7pF 3 2.5μH ±5 150 7pF  2 0.5μH 0.05μH 200 5pF 1 0.1μH 0.05μH 100 5pF 附：在測量Q值時附加說明 3．電感組  Q表是根據串聯諧振和電壓比值原理工作的，Q表的指示Q值是包括被測件的有效Q值及測試回路固有殘量在內的整個諧振回路有效Q值，必須用Q表測試回路殘量修正Q表的指示Q值，這是Q表測量的一個重要特點。  附表二  各Q值均值回路指示值Qen 和測試回路平均殘量修正系數表  線圈號 測試頻率  QeSTD-A  （No.81014） AS2851 STD-A  Qen 修正系數 Qen 修正系數 1 100kHz 114 104.5 0.91 108.7 0.95  2 400kHz 135 125 0.93 135 1 3  1MHz 134 131.3 0.98 134 1 4  2MHz 154 150.9 0.98 149.9 0.97  4.5MHz 183 175.7 0.96 175.9 0.96 5  4.5MHz 170 166.6 0.98 160.2 0.94  12MHz 237 213.3 0.9 215.6 0.91 6  12MHz 234 215.3 0.92 180.3 0.77  25MHz 305 265.4 0.87 255.6 0.84 7  25MHz 218 193.5 0.89 163.5 0.75  50MHz 257 224.5 0.87 235.1 0.91Qe：標準有效Q值  在一般情況下，Q表作為低精度儀器使用或利用Q表對線圈作比較測量時，可不必對殘量的影響進行修正。  Q值測量誤差可按Q值參考標準不同分為二類。  我廠采用的一種是以Q表生產廠家所提供并經計量部門審核的均值回路標準指示值Qen為參考標準，Q表指示Q值Qi的相對誤差由下式表示：  δQi=[（Qi-Qen）÷Qen]× 100％  式中Qi為標有Qen值標準量具在Q表上的實際指示值。 注：修正系數主要用于用戶測量一個器件Q值時，根據指示的Qi值換算出較準礎的Q值。 

五、產品的交收檢驗 1．檢驗環境要求：  a．環境溫度：20℃±2℃  相對濕度<50％； b．供電電源：220V±10V  50Hz±1Hz。 2．檢驗設備要求：  a．設備應在計量后的有效使用期內3．Q值指示檢驗  a．檢驗設備：WGSTD-A標準線圈一套；  b．把標準Q值線圈接入WGSTD-A電感接線柱上； c．選擇標準Q值線圈所規定的檢定頻率；  d．WGSTD-A表的Q值讀數與標準線圈的本機均值，Qen 間的相對誤差應符合二.1.C條固有誤差所規定。 本機均值系數見附表二。 4．調諧電容器準確度檢驗 a. 測試時應斷開Q表電源；  b．設備連接如圖五所示，連接線應盡量短，盡可能減小分布電容；                     圖五 c．電容測試儀技術指標     測試范圍：30-550pF、±5pF；     測試精度：30-550pF±0.1％、±5pF±0.05pF；  d．調諧電容器刻度盤上指示值與電容測試儀指示值之間誤差應符合二.3.b條規定。  5．頻率指示誤差檢驗 a．設備連接如圖六所示 b．從后面板的頻率監測端用BNC電纜連至頻率計數器輸入端； c．頻率計數器技術要求     測量范圍：10Hz-100MHz；    測量誤差：<1×10-6；    測量靈敏度：<30mV；  d．測試線要求：高頻電纜$YV-50-3；  e．Q表頻率指示值與頻率計數器讀數值間的誤差應符合二.4.C條規定。介電常數測試儀操作說明  操作步驟：  1、清點步件，確認測試儀器一臺，試樣夾具一個，雙接頭導線一根，不同電 感值的電感9個。如下圖:         2、接通測試儀器電源并開啟儀器使儀器預熱15分鐘。   3、在儀器預熱15分鐘過程中準備好試樣，試樣要求為：厚度2+0.5mm，直 徑為Φ30~40mm（ε<12時），Φ25~35mm（ε=12~30時），Φ15~20mm（ε>30時），如果樣品表面有屏蔽層，請剔除屏蔽層，同時試樣表面要做到平整。   4、連接測試儀器與試樣夾具間的導線，測試儀器這邊導線應插在標示為接電 容的插孔內，試樣夾具這邊則應接在夾具上突出兩個銅極上，接時先將夾具夾緊。如下圖圖示，但夾緊試樣時勿放入試樣。                 5、選擇一個電感值較小的電感，將其接在測試儀器標有電感圖示的處。      6、調整測試儀器頻率值為與所接電感匹配的頻率值，如果不知該值為多少， 試樣夾具     導線      測試儀器頂部接線處     銅極     試樣     接電感      試樣夾具     電感      導線     測試儀       可在接好電感后，調節儀器面板主調電容，使其對應指針指示在250左右，接著按一下測試儀器面板上的“搜索”按鈕，此時搜索指示燈點亮，儀器自動匹配頻率值，當匹配完成后，搜索指示燈熄滅，儀器zui終顯示匹配值。               7、找C1與Q1：調節儀器面板上的主調電容，可從小至大微調，同時觀察面 板上Q值顯示值，當Q值顯示為zui大時，再調節儀器面板上微調電容，再次確認Q值為zui大值后記錄下當前Q值，同時記錄下主調電容與微調電容指針所指數據之和C值。記錄的C值與Q值即是Q1與C1值。   8、斷開試樣夾具上所接導線，松開夾具，放入試樣，再夾緊夾具，接好導線。 zui終接線如下圖所示        9、找C2與Q2：重復前面第7步，找對應的C值與Q值，所記數據即為C2 值與Q2值。  10、 數據處理：將所記數據代入公式，得出測試結果

Dielectric constant dielectric loss tester to meet standards: GBT 1409-2006 measurement of electrical insulating materials at power, audio frequency, high frequency （ including meter wavelengths ） of the permittivity and dielectric loss factor of the recommended method
One, the dielectric constant dielectric loss tester overview
GDAT frequency Q table as the latest generation of universal, multi-purpose, multiple range impedance test apparatus, test frequency to achieve the highest domestic 160MHz.
GDAT HF Q meter employs a number of leading technology:
Double scan technique - testing frequency and tuning capacitor double scanning, automatic tuning the search function.
Double test element input - testing frequency and tuning capacitor value can be via a digital key input.
Dual digital tuning - digital frequency tuning, digital tuning capacitor.
Automatic measurement technology - on test implementation of Q value, resonant frequency and capacitance measurement.
The parameters of liquid crystal display, digital display main capacitor, inductance, Q value, signal source frequency, resonant pointer.
DDS direct digital synthesis signal source to ensure that the source of high frequency Baozhen, high precision, high stability margin.
Computer automatic correction and test loop optimization - make test loop residual inductance to a minimum, the complete eradication of Q reading values at different frequencies to be amended puzzle.
Gdat HF Q form innovation design, no doubt for the high frequency components of the impedance measurement provides the perfect solution, it gives in high-frequency electronic design engineers, researchers, university laboratory and electronics manufacturing industry to provide a more convenient detection tool
Measurement, measuring is more accurate, more efficient. The user can at any given frequency apparatus, arbitrary point tuning capacitance detection device without attention to quality, range and conversion unit.
One, the dielectric constant dielectric loss tester overview
Dielectric loss and dielectric constant are all kinds of porcelain, porcelain, ceramic capacitor device, and composite materials is an important physical properties, by measuring the dielectric loss tangent of dielectric constant （ Tan δ andε）, to further understand the effects of dielectric loss and dielectric constant of the various factors, in order to improve the material the property basis; instrument basic principle is the use of high frequency resonance method, and provides, universal, multi-purpose, multiple range impedance test. It uses single-chip computer as the control core of measuring instrument, using the frequency locking, frequency standard test point automatic setting, resonant point automatic search, Q value range automatic conversion, numerical display and other new technology, improved the tuning circuit, the tuning circuit for testing the residual inductance is reduced to the minimum, and retains the original Q table in the automatic amplitude stabilizer technology, makes the new instrument in the use of more convenient, measurement is more accurate. Instrument in high frequency test conditions, measurement of high frequency inductive or resonant loop of the Q value, the inductance of the inductor is the amount and distribution of capacitance, capacitance and loss angle tangent value of electrical materials, dielectric loss in high frequency, high frequency circuit in parallel and series resistance, the characteristic impedance of the transmission line and so on.
The apparatus used in scientific research institutions, schools, factories and other units to inorganic metalloid new material property application research.
Main technical characteristics
Q measurement range of 2 ~ 1023, range profile: 30, 100, 300, 1000, automatic or manual shift
Inherent error≤5% ±full scale value of 2% （ 200kHz ～10MHz ）, 6%±full scale value of 2% （ 10MHz ～160MHz ）
Operating error≤7% ±full scale value of 2% （ 200kHz ～10MHz ）, 8%±full scale value of 2% （ 10MHz ～160MHz ）
Inductance measuring range of 4.5nH～ 140mH
Capacitance measuring range 1～ 200pF
The main capacitor regulation range 18～ 220pF
The main capacitor regulation accuracy below 100pF± 1pF±1%; 100pF
Signal source frequency coverage range of 100kHz～ 160MHz
Frequency segmentation （ virtual ） 100～ 999.999kHz, 1～ 9.99999MHz, 10～ 99.9999MHz, 100～ 160MHz
Frequency indication error of 3× 10 -5±1 words
With a new dielectric dissipation device with GDAT Series Q table use
A. An overview
BD916 dielectric loss test device and the company's production of various high-frequency Q matching table, can be used to measure the insulating material of the permittivity and dielectric dissipation factor （ Tan ）.
BD916 dielectric loss test device is the replacement of BD916914, it uses a number of microscope measuring device, so the reading is convenient, accurate data.
The test device consists of a LCD digital display device for measuring and a pair of spaced adjustable flat plate capacitor pole pieces.
Flat capacitor polar plate for holding the material to be measured sample, micro measuring device would display the measured sample of the material thickness.
BD916 dielectric loss test device shall be equipped with the Q table as a tuning indicator instrument, through the tested samples of materials into the panel capacitor and do not put it in the sample when the variation of Q value, the measured dielectric material loss angle tangent value.
From the panel capacitor plate spacing reading variation can be calculated in terms of dielectric material.
BD916 dielectric loss test device technical characteristics
Flat capacitor: pole piece size:Φ 50mm/Φ 38mm optional
Pole spacing adjustable range:≥ 15mm
The 2 clamp plug spacing: 25mm± 0.01mm
The 3 fixture loss tangent value ≤ 4× 10-4 （ 1MHz ）
4 micrometer rod resolution: 0.001mm
Inductance:
Coil test frequency distributions of Q values of P inductance capacitance
9 100KHz 989.4 25mH
8 400KHz 13811.4 4.87mH
7 400KHz 20216 0.99mH
6 1MHz 19613252 μ H
5 1988.7 49.8 μ H 2MHz
4 4.5MHz 231710 μ H
3 1936.9 2.49 μ H 12MHz
2 2296.4 0.508 μ H 12MHz
1 25MHz, 0.125μ H 50MHz 2332110.9
Canton company other insulating materials testing instruments:
BDJC-0-100KV dielectric breakdown testing instrument
BDJC series insulating materials at power frequencies of dielectric breakdown test instrument
BDJC series voltage dielectric strength test apparatus
BDJC series voltage breakdown testing instrument
BDJC series insulating paint film breakdown strength tester
BDJC capacitor voltage breakdown testing instrument
EST-121 volume surface resistivity measuring instrument
GDAT-A dielectric loss tester / dielectric constant test
GDAT-C model dielectric constant dielectric loss tester
BDH leakage resistance tester
BDH-B arc resistance tester
Pay attention to every detail is Canton company for each customer commitment, and North Canton company has been pursuing the aim of.
China Inspection and certification services tip and inlectual leader, helped many testing quality inspection units and schools and research units to provide comprehensive one-stop quality solutions.
Beijing North Canton precision instrument equipment limited